X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光(二次X射線)，探測器對X熒光進(jìn)行檢測。

一、X熒光光譜儀技術(shù)原理：

受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。

元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：

λ=K(Zs)2

式中K和S是常數(shù)。

而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個(gè)光具有的能量為：

E=hν=hC/λ

式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數(shù)；ν為光波的頻率；C為光速。

因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。

二、產(chǎn)品特點(diǎn)

1.鍍層檢測，zui多鍍層檢測可達(dá)5層。

2.對于薄鍍層分析精確，可以精確的分析小于1uin(0.025um）的鍍層，可以準(zhǔn)確分析0.2-0.5uin的金層。

3.可同時(shí)進(jìn)行選配RoHS檢測功能，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。

4.可同時(shí)進(jìn)行選配鍍液藥水分析功能，一分鐘即可分析出藥水內(nèi)金，鎳，銅等藥水含量，分析精度為0.01ppm，

5.可同時(shí)進(jìn)行選配合金成分分析功能。

6.開槽式超大可移動，源興二次元全自動樣品平臺610*525(長*寬)，樣品移動距離可達(dá)112*2X5mm(長*寬*高)；專為線路板行業(yè)研制。

7.激光定位，可以連續(xù)自動多點(diǎn)程控測量；

8.可以選配多準(zhǔn)直器系統(tǒng)，單準(zhǔn)直器/6個(gè)準(zhǔn)直器/7個(gè)準(zhǔn)直器。

9.可檢測固體、液體、粉末狀態(tài)材料；

10.運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低；

11.可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性，半定量分析；

12.操作簡單、易學(xué)易懂、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測結(jié)果（20-40秒）；

13.標(biāo)配德國AmptekSI-Pin探測器，選配高精度硅漂移SDD探測器，保證測試精度。

14.軟件支持無標(biāo)樣分析。

15.相對于傳統(tǒng)鍍層，開機(jī)不需要預(yù)熱，直接可以測量，測量后可以直接關(guān)機(jī)，節(jié)約用電，減少關(guān)鍵部件（X射線管，高壓等）消耗，并減少了等待時(shí)間。