儀器用途：

該儀器主要用于自動檢測表盤正面缺陷,如：確認(rèn)表盤表面的底色及底紋、表面是否刮花、有污漬、灰塵；確認(rèn)時位字釘形狀、粗幼、長短、顏色、夜光、少字釘、錯字釘、釘傷、釘崩、釘污等；確認(rèn)分線印刷的位置、大小、顏色、斷劃、少印刷等；確認(rèn)LOGO印刷的位置、大小、顏色、斷劃、印刷不良等; 確認(rèn)日歷窗的大小、印刷、披鋒等； 確認(rèn)附加件有無、位置、配合等。

儀器特點：

具有國際先進水平的測量軟件包YVM-AOI 將現(xiàn)代坐標(biāo)測量技術(shù)、現(xiàn)代CAD工業(yè)設(shè)計技術(shù)和現(xiàn)代工業(yè)加工技術(shù)的幾何量尺寸、公差評定測試要求進行了最佳結(jié)合，不管是簡單的箱體類工件還是復(fù)雜的輪廓曲面類工件抑或是更加專業(yè)的LCD行業(yè)，YVM-AOI 軟件都為其提供了完美的測量解決方案。計算速度快、數(shù)學(xué)模型先進、功能齊全、操作直觀、穩(wěn)定性好。