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| 槽殘厚測(cè)試儀 YX-CH15 |
型號(hào)：YX-CH15
儀器用途：
用于PCB電路板V型槽殘厚測(cè)量及V型槽深度測(cè)量。
儀器特點(diǎn)：
1. 測(cè)量數(shù)據(jù)液晶。
2. 刀具采用硬質(zhì)合金刀，使用壽命長(zhǎng)。
3. 可mm/inch公制和英制自由互換
技術(shù)參數(shù)
1. 采用高精度測(cè)量百分表和數(shù)顯表。
2. 公英制可切換。
3. 刀具采用硬質(zhì)合金刀，使用壽命長(zhǎng)。
4. 上下測(cè)量刀具道軌式滑行，精準(zhǔn)度高。
技術(shù)參數(shù)
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項(xiàng)目 |
技術(shù)參數(shù) |
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精度 |
0.01mm; |
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刀刃 |
0.15mm; |
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整機(jī)尺寸（L×W×H） |
500mm×505mm×400mm |
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重量 |
15KG |
主營(yíng)離子污染測(cè)試儀,自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x,尺寸快速測(cè)量?jī)x,2.5次元測(cè)量?jī)x
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