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源興光學詳解測厚儀分類及用途

測厚儀是用來測量物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、紙張等)。這類儀表中有利用α射線、β射線、y射線穿透特性的放射性厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有電容式厚度計等。而利用微波和激光技術制成厚度計,目前還處在研制、試驗階段。


1、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),達到要求的軋制厚度。???主要應用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。


2、紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。


(1)非接觸式紙張測厚儀

   


英國真尚有公司研發(fā)出了新的非按觸式測量方法,可以實現(xiàn)對紙張的非接觸式測

量,避免對紙張造成形變引起誤差。


(2)非接觸式測厚儀的測量原理

   


使用兩個紙張厚度傳感器安裝在被測物(紙張)上下方,將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上確保兩個傳感器的激光能對在同一點上。隨著被測物的移動傳感器就開始對其表面進行采樣,分別測量出目標上下表面分別與上下成對的激光位移傳感器距離,測量值通過串口傳輸?shù)接嬎銠C,再通過我們在計算機上的測厚軟件進行處理,得到目標的厚度值。



3、薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。


4、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。


涂鍍層測厚儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:


(1)磁性測厚法:適用層磁材料上的非導镃層厚度測量。導磁材料一般為:銅,鐵,銀,鎳。此種方法測量精度高。


(2)渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。



(3)超聲波測厚法:目前輛還沒有此種方法測量涂鍍層厚度的,國外個別廠家有這樣的似器,適用多層涂鍍層原唐的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴,測量精度也不高。


(4)電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屈于無損檢測,需要破壞涂鍍層一般精度也不高,測量起來比較其他幾種麻煩。


(5)射測厚法:此處儀器價格非昂(一般在10萬配以上》適用于一些特殊場合、國內(nèi)目前使用zui為普遍的是第1/2兩種方法。


超聲波測厚儀:超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的,當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。

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