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X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測樣品，產生X熒光(二次X射線)，探測器對X熒光進行檢測。

一、X熒光光譜儀技術原理：

受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學關系如下：

λ=K(Zs)2

式中K和S是常數。

而根據量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為：

E=hν=hC/λ

式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數；ν為光波的頻率；C為光速。

因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。

二、產品特點

1.鍍層檢測，zui多鍍層檢測可達5層。

2.對于薄鍍層分析精確，可以精確的分析小于1uin(0.025um）的鍍層，可以準確分析0.2-0.5uin的金層。

3.可同時進行選配RoHS檢測功能，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。

4.可同時進行選配鍍液藥水分析功能，一分鐘即可分析出藥水內金，鎳，銅等藥水含量，分析精度為0.01ppm，

5.可同時進行選配合金成分分析功能。

6.開槽式超大可移動，源興二次元全自動樣品平臺610*525(長*寬)，樣品移動距離可達112*2X5mm(長*寬*高)；專為線路板行業(yè)研制。

7.激光定位，可以連續(xù)自動多點程控測量；

8.可以選配多準直器系統(tǒng)，單準直器/6個準直器/7個準直器。

9.可檢測固體、液體、粉末狀態(tài)材料；

10.運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低；

11.可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析；

12.操作簡單、易學易懂、高品質、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測結果（20-40秒）；

13.標配德國AmptekSI-Pin探測器，選配高精度硅漂移SDD探測器，保證測試精度。

14.軟件支持無標樣分析。

15.相對于傳統(tǒng)鍍層，開機不需要預熱，直接可以測量，測量后可以直接關機，節(jié)約用電，減少關鍵部件（X射線管，高壓等）消耗，并減少了等待時間。