阻抗測試儀（特指TDR阻抗測試儀，而非LCR表類儀器）是基于TDR時域反射技術(shù)實現(xiàn)的特性阻抗專用測試儀器。阻抗測試儀是根據(jù)發(fā)射信號在被測件處的反射情況來計算被測件參數(shù)的，與雷達(dá)類似。具體描述為：皮秒脈沖發(fā)生器產(chǎn)生極快上升沿的高速階躍信號，并通過高頻電纜、探針傳播到被測件上。該信號在沿被測件傳播的過程中，當(dāng)遇到開路、短路及阻抗不連續(xù)點(diǎn)時，會在阻抗變化處產(chǎn)生不同程度的反射。反射信號會逆向往回傳播，通過寬帶微波樣器對該反射信號進(jìn)行采樣，可以獲得反射電壓的信息。對反射信息進(jìn)行處理及分析后可以得到反射點(diǎn)的特性阻抗值和位置信息，并以可視化的波形顯示出來。反射點(diǎn)位置精度可達(dá)毫米級別。
特點(diǎn)：
阻抗測試儀可以用于直接測量單端阻抗、差分阻抗、共模阻抗及時延參數(shù)，阻抗測量精度為單端50Ω：<1%，差分100Ω：<2%，時延測量精度為10ps（約2mm）。
此外，阻抗測試儀還可用于間接測量相對介電常數(shù)、上升時間等參數(shù)。
用途：
阻抗測試儀可以測量所有可以看作是傳輸線的器件，包括PCB阻抗條、微帶線、帶狀線、各類連接器（SMA、N、BNC等）、各類高頻線纜（同軸線、雙絞線、平行雙導(dǎo)線）等等，唯一的前提是被測件的長度應(yīng)不低于儀器可以測量的最小長度。此外，不同的被測件測量一般需要與之匹配的探頭、轉(zhuǎn)換器或夾具，以保證測量時的接觸良好。
優(yōu)勢：
CTS380阻抗測試儀是成都奧特為科技的第四代TDR產(chǎn)品，遵循IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計。除了完整的保留第三代產(chǎn)品的校準(zhǔn)、測試及結(jié)果處理分析等功能外，我們還進(jìn)行了全面的升級優(yōu)化，和第三代產(chǎn)品以及同類型的其他廠家品牌比起來，CTS380主要有以下幾個方面的優(yōu)勢。
1)增加靜電保護(hù)電路，防靜電能力可達(dá)HBM分級3A級別（6000V），客戶再也不需要防靜電手腕及防靜電衣服帽子的束縛。
2)優(yōu)化取樣電路，提升帶寬至3.5G，去掉靜電保護(hù)電路帶寬可達(dá)4.5G，可以測量更短的被測件，在阻抗不連續(xù)點(diǎn)也能夠獲得更高的分辨率和更準(zhǔn)確的測量結(jié)果。
3)重新設(shè)計優(yōu)化數(shù)字電路，并增加閉環(huán)取樣電路，測量穩(wěn)定性和一致性提升約40%，在批量測量和重復(fù)測試時波動更小，測量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。
4)優(yōu)化插值算法，水平顯示分辨率可達(dá)1ps（0.2mm），再短的阻抗不連續(xù)點(diǎn)也能夠清晰準(zhǔn)確的顯示出來。
